Giảm nguy cơ sự cố sứ xuyên máy biến áp: Nghiên cứu thực tế điển hình ở Đông Nam Á

Trong những năm gần đây, sự cố sứ xuyên cao áp đã tác động đáng kể lên độ tin cậy của hệ thống và an toàn của nhân viên vận hành trong khu vực. Điều này thúc đẩy 3 tổ chức điện lực lớn trong ASEAN triển khai một chương trình hợp tác khảo cứu độ tin cậy của sứ xuyên và xây dựng các biện pháp điều chỉnh nhằm cải thiện chất lượng vận hành của sứ xuyên. Thành quả của khảo cứu này là xuất phẩm Hướng dẫn về sứ xuyên MBA T.2 đầu tiên (2015). Hướng dẫn chứa một bộ sưu tập thông tin về các vấn đề trong quá khứ, những bài học rút ra, thông lệ tốt nhất của các thành viên và những biện pháp giảm thiểu nguy cơ.

Nguồn : tạp chí INMR-Canada- tháng 1-2019

Thống kê cho thấy sứ xuyên là một trong những thành tố chính đóng góp vào các  sự cố MBA. Sự cố sứ xuyên do vậy có tác động lớn lên độ tin cậy cũng như an toàn của hệ thống và cả nhân viên vận hành. Với nhận thức đó, các tổ chức điện lực lớn ở Đông Nam Á đã triển khai một chương trình hợp tác khảo sát về độ tin cậy của sứ xuyên và cũng đã lập thành các giải pháp kiểm soát để cải thiện an toàn vận hành sứ xuyên. Kết quả khảo sát được đưa vào ấn phẩm năm 2015 của INMR  bởi các kỹ sư S.Gobi Kanan thuộc Tenaga Nasional Berhad (TNB), Chitapon Jedwanna thuộc Electricity Generating Authority of Thailand(EGAT)  và  Henry Ika thuộc Perusahaan Listrik Negara (PLN)-Indonesia, đã tóm tắt sự cố, nguyên nhân chính gây hư hỏng sứ xuyên  tại mỗi tổ chức thành viên trong khoảng 2001-2015 . Những thông lệ khác nhau giữa các thành viên được thảo luận theo quan điểm nhằm cải thiện sự lựa chọn, đặc tính kỹ thuật, thiết kế, đánh giá tình trạng, bảo quản và vận chuyển sứ xuyên. Những thay đổi để cải thiện như vậy được xem là cần thiết để có tác động thật sự lên mức an toàn và tin cậy của MBA và lưới điện nói chung. Thông lệ bảo dữơng, các tiêu chuẩn và các công nghệ sứ xuyên  hiện hành đều được xác lập từ lâu ở qui mô công nghiệp, mặc dù mỗi loại có ưu và nhược điểm chung. Những hạn chế trong thông lệ chính nằm ở chỗ sự khác biệt trong chiến lược bảo dưỡng và tiêu chuẩn nghiệm thu hiện hành để xác định sự xuống cấp của sứ xuyên. Cũng đã có những qui định được chuẩn hóa về kích thước nhằm thuận tiện cho bảo dữơng và các qui định về dự phòng chiến lược.Ví dụ, khuyết điểm chính của sứ xuyên loại cách điện bằng giấy tẩm dầu(OIP-Oil Impregnated Paper) là nguy cơ cháy và tác động môi trường. Trong trường hợp của sứ xuyên làm từ giấy tẩm nhựa (RIP- Resin Impregnated Paper), nguy cơ nhiễm ẩm trong quá trình bảo quản là vấn đề chính. Những khuyết điểm này phải được chỉ rõ cụ thể để xây dựng một kế hoạch  hành động  nhằm cải thiện chất lượng vận hành của sứ xuyên. Hướng đến tương lai, một số tổ chức thành viên đã bắt đầu thực hiện các giải pháp công nghệ mới đang trong quá trình đánh giá , bao gồm sử dụng sứ xuyên bằng vật liệu tổng hợp tẩm nhựa (RIS-Resin Impregnated Synthetics ) và công nghệ chắn ẩm cho RIP. 

Hội đồng bảo trì thuộc các tổ chức điện lực ASEAN (JMCC) hình thành năm 2002 gồm có 3 tổ chức truyền tải điện trong khu vực, là TNB của Malaysia, PLN của Indonesia và EGAT của Thailand . Các tổ chức thành viên này cung cấp xấp xỉ 60% nhu cầu năng lượng trong khu vực , theo số liệu của APEC Energy Demand and Supply Outlook. Đến năm 2016, lưới điện của họ đã có 3.367 MBA từ 500 kV trở xuống được lắp đặt, dung lượng khoảng 292.760 MVA. Mạng lưới truyền tải của họ gồm khoảng 96.757 km –mạch đường dây trên không và cáp ngầm.

Trong những năm gần đây, sự cố sứ xuyên cao áp đã tác động đáng kể lên độ tin cậy của hệ thống và an toàn của nhân viên vận hành  trong khu vực. Điều này thúc đẩy 3 tổ chức điện lực lớn trong ASEAN triển khai một chương trình hợp tác khảo cứu độ tin cậy của sứ xuyên và xây dựng các biện pháp điều chỉnh  nhằm cải thiện chất lượng vận hành của sứ xuyên. Thành quả của khảo cứu này là xuất phẩm Hướng dẫn về sứ xuyên MBA T.2 đầu tiên (2015). Hướng dẫn chứa một bộ sưu tập thông tin về các vấn đề trong quá khứ,  những bài học rút ra, thông lệ tốt nhất của các thành viên và những biện pháp giảm thiểu nguy cơ.

H. 1: Vị trí của các tổ chức điện lực  ASEAN

H. 2: Tài liệu Hướng dẫn về sứ xuyên MBA trong ASEAN.

THỐNG KÊ SỰ CỐ

Thống kê minh họa cho những sự cố nặng về MBA trong hệ thống của các thành viên JMCC  từ 2001 đến cuối 2014 kết luận rằng xấp xỉ 23%( hay 48 trong tổng số sự cố ) là do sự cố sứ xuyên. Nhằm mục đích chuẩn hóa, sự cố trong khảo cứu được định nghĩa như là một sự kiện liên quan đến các bộ phận chính của MBA dẫn đến yêu cầu phải đại tu/ thay thế bộ phận đó hay cả MBA.

H. 3: Các sự cố MBA liên quan  đến các bộ phận chính trên MBA tại  các tổ chức điện lực: 2001 -9/ 2014.

H. 4: Thống kê lũy tiến sự cố : 2001-2015.

Thống kê theo tổng số sự cố sứ xuyên và các sự kiện cháy từ 2001 được trình bày trong H.4 ở trên. Dựa trên những sự cố này, rõ ràng rằng sự cố sứ xuyên trong các tổ chức thành viên có xu hướng tăng nhưng bình ổn trong 03 năm cho đến 2015. Tình hình này tạo ra một con số trung bình khỏang 3,5 sự cố/năm với tỉ lệ khoảng 75% có cháy trong các lần sự cố sứ xuyên. Không có sự cố các sứ xuyên bằng RIP  được ghi nhận trong suốt thời gain khảo sát và sự cải thiện có được trong 3 năm cuối có lẽ do các biện pháp tích cực ở các thành viên nhằm giảm thiểu sự cố.

Phân tích phân bố xác suất Weibull đối với các sự cố sứ xuyên ở TNB, EGAT và PLN chỉ ra rằng tuổi thọ của sứ xuyên trước sự cố tại mức tin cậy 95% được tính toán trung bình là 15,3 năm. H.5 dưới đây tóm tắt thời gian làm việc  tính bằng năm ở từng điện lực, với EGAT ghi nhận thời gian làm việc cao nhất, trung bình  bằng 18,97 năm.

H. 5: Phân tích phân bố xác suất Weibull của các sự cố sứ xuyên : 2001 -9/ 2014.

Bảng 1 dưới đây tóm tắt các tình huống sự cố và nguyên nhân chính có thể , được ghi nhận trong quá trình khảo sát độ tin cậy của sứ xuyên do TNB-EGAT-PLN tiến hành từ 2001-9/2014. Nhóm công tác không thực hiện phân tích chi tiết về các nguyên nhân chính được báo cáo này và đơn giản chỉ giả thiết rằng thông tin từ các thành viên cung cấp là đủ chính xác dựa trên diễn dịch của chính họ.

Nguyên nhân chính       có thể

EGAT

PLN

TNB

Tổng cộng

Slg sự cố

%

Slg sự cố

%

Slg sự cố

%

Slg sự cố

%

Lão hóa/ suy giảm cách điện chính

5

62,5

1

4,8

7

36,8

13

27,1

Ẩm xâm nhập

0

0

0

0

2

10,5

2

4,2

Hỏng tap đo tan

1

12,5

0

0

3

15,8

4

8,3

Chế tạo/thiết kế

1

12,5

0

0

3

15,8

4

8,3

Sét/ ảnh hưởng

0

0

3

14,3

2

10,5

5

10,4

Phóng điện bên ngoài

0

0

0

0

1

5,3

1

2,1

Rò khí cách điện

0

0

1

4,8

0

0

1

2,1

Không xác định

1

12,5

16

76,2

1

5,3

18

37,5

Bảng 1: Tóm tắt nguyên nhân chính có thể  của các sự cố sứ xuyên : 2001-2014.

Dựa vào bảng 1 và H.5 trên đây, có thể kết luận rằng số lượng lớn các sự cố ghi nhận là có liên quan đến cách điện chính (27% tổng số sự cố). Tuy nhiên, tỉ lệ này kỳ vọng là lớn hơn nữa do một tỉ lệ đáng kể (37,5%) được ghi nhận là “không xác định /không biết” . Lý do mà chúng được xếp vào loại “không xác định /không biết” có thể được giải thích bởi thực tế  là không có phân tích tổn thương chi tiết được tiến hành. Hơn nữa, vài tình huống sự cố cho thấy hư hỏng trên bộ phận là quá thảm khốc đến mức không thể phân tích tại hiện trường được.

H. 6: Phân loại nguyên nhân chính  của sự cố sứ xuyên: 2001 - 2014.

KHẢO CỨU THÔNG LỆ BẢO DƯỠNG

Trong thời gian khảo sát,  quan sát thấy rằng  các điện lực thành viên có một số kỹ thuật chẩn đoán on-line và off-line tại chỗ trong hệ thống của họ để giám sát tình trạng sứ xuyên. Nhóm công tác tập hợp những thông lệ khác nhau này nhằm đơn giản hóa “công thức” thực tiễn tốt nhất  và thời khoảng tối ưu nhất cho từng loại thực hành bảo dưỡng. Bảng 2 tóm tắt các kỹ thuật chẩn đóan khác nhau giữa các thành viên và cho thấy những kỹ thuật này biến động rộng phụ thuộc vào  việc các sứ xuyên được lắp đặt riêng lẻ hay cùng với nhau và tùy vào ứng dụng của chúng.

VẤN ĐỀ

KỸ THUẬT CHẨN ĐOÁN

Điều kiện

TẦN SUẤT

EGAT

TNB

PLN

NHIỄM ẨM

Điện dung/ hệ số công suất (≈tanδ)

Off-line

 R(6 n)

R(4 n)

R(1n/2n tùy vùng)

Điện dung/ hệ số công suất (≈tanδ)

On-line

I(500kV)

N

R( MBA mới)

Điện trở cách điện DC

Off-line

I

I

I

Hot collar (*)

Off-line

I

I

I

Đáp ứng tần số của điện môi

Off-line

I

I

I

Chất lượng dầu

Off-line

I

I

I

Vầng quang

Phóng điện cục bộ

On-line

N

N

N

Điện áp ảnh hưởng vô tuyến

On-line

N

N

N

Lão hóa

Điện dung/ hệ số công suất (≈tanδ)

Off-line

 R(6 n)

R(4 n)

R(1n/2n tùy vùng)

Điện dung/ hệ số công suất (≈tanδ)

On-line

I(500kV)

N

R( MBA mới)

Điện trở cách điện DC

Off-line

I

R(4 n)

N

Đáp ứng tần số của điện môi

Off-line

I

I

N

DGA/ Chất lượng dầu

Off-line

I

I

I

Tụ ngắn mạch

Điện dung/ hệ số công suất (≈tanδ)

Off-line

 R(6 n)

R(4 n)

N

Điện dung/ hệ số công suất (≈tanδ)

On-line

I(500kV)

N

N

Đáp ứng tần số của điện môi

Off-line

I

I

N

Phóng điện mặt bên  trong

Phóng điện cục bộ

On-line

N

N

I

Điện áp ảnh hưởng vô tuyến

On-line

N

 

 

Điện dung/ hệ số công suất (≈tanδ)

Off-line

 R(6 n)

R(4 n)

R(1n/2n tùy vùng)

Điện dung/ hệ số công suất (≈tanδ)

On-line

I(500kV)

N

R( MBA mới)

Đáp ứng tần số của điện môi

Off-line

I

I

N

DGA/ Chất lượng dầu

Off-line

I

I

I

Tiếp xúc kém

Quét hồng ngoại

On-line

 R(6 thg)

R(6 thg)

R(1 thg)

Rỉ dầu

Quan sát

On-line

 R (1 tuần)

R(2 thg)

R(1 tuần)

Nhiễm bẩn

Vỡ sứ

Tổn hại cơ học…

Bảng 2: Tóm tắt các thông lệ  & kỹ thuật chẩn đoán  
Ghi chú: R= Định kỳ, I = Kiểm tra nhanh, N = không phổ biến/ đang nghiên cứu (Chú ý: kỳ hạn thử nghiệm chỉ được đề cập  nếu thử nghiệm được thực hiện theo một định kỳ (như một thường quy)).

Hệ số công suất (PF=Power Factor = sin δ ≈ Tan δ với những giá trị sin δ, tan δ nhỏ ≤ vài %).

(*) Hot collar : một cách thử nghiệm tổn hao điện môi khi sứ xuyên không có Tap đo Tan hoặc đo áp : Kẹp một điện cực vòng dưới tán sứ đầu tiên , cung cấp nguồn (10 kV) còn ty sứ và vỏ máy nối đất, lấy trị số công suất đo được (mW), so với chuẩn NEMA là 100mW.

Dựa trên kết qủa khảo sát, mặc dù có khác biệt về chiến lược và kỹ thuật, kỹ thuật chung để đánh giá tình trạng của một sứ xuyên liên quan đến việc sử dụng Hệ số tổn hao (Tanδ)/ Hê số công suất (Cosδ) và Điện dung. Kết quả đo sau đó được so sánh với giá trị trên nameplate hoặc giá trị lần thử trước. Độ tăng hay gỉam so với giá trị tham chiếu là chỉ dấu cho sự hao mòn hay xuống cấp của hệ thống cách điện. Giới hạn cho mức thay đổi cho phép phụ thuộc vào nhà sản xuất và Hướng dẫn của JMMC  cũng gợi ý diễn giải các giới hạn dựa trên thống kê trong tập hợp MBA hiện hữu ( Được chia sẻ giữa các tổ chức thành viên, như thể hiện ở phần sau đây).

Thiết kế cơ bản của một sứ xuyên loại OIP hay RIP là như nhau. Tuy nhiên, có vài khác biệt đặc thù dẫn đến các tham số về già hóa có khác nhau. Trong trường hợp một sứ xuyên loại OIP, Hệ số công suất tăng là tham số chính chỉ sự lão hóa. Nói thêm, DGA (phân tích khí hòa tan) có thể cho thông tin về độ tin cậy vận hành. Sự tăng bất kỳ của tụ  C1 cho thấy có đánh thủng điện môi cục bộ. Tuy vậy, đánh thủng cục bộ đầu tiên có thể tiếp theo đó là đánh thủng hoàn toàn cách điện, dẫn đến sự cố thảm khốc. Do đó, C1 không thực sự là một tham số thích hợp chỉ sự già hóa . Đối với sứ xuyên loại RIP, sự đánh thủng cục bộ bất kỳ sẽ bị giới hạn tại vị trí của nó mà không có tương tác với lõi tụ còn lại. Điều này do thực tế là lõi tụ là vật rắn, ngược lại với tụ loại OIP , ở đó  khí phát ra và dầu bị phân hủy sẽ phân tán khắp trong lõi. Sứ xuyên loại RIP không chứa dầu và do đó không xảy ra già hóa dầu. Một sự tăng về Hệ số công suất không trực tiếp do già hóa mà dễ do xâm nhập ẩm làm yếu cách điện. Điều này (ẩm)  không là một vấn đề đối với những sứ xuyên đang vận hành nhưng lại xảy ra với những sứ xuyên không được bảo quản đúng cách. Với quy trình làm khô thích hợp, lượng ẩm xâm nhập nào đó vào lõi sẽ được loại khỏi sứ xuyên RIP.   

Đối với cả 2 loại sứ xuyên, OIP và RIP, ảnh hưởng của điện dung tản cần được xem xét đến nếu so sánh giá trị đo được với các giá trị trong “routine test” . Một lần đo lấy “vân tay” ngay sau khi lắp đặt xong , là một chuẩn tham chiếu tốt nhất về sau.

 

OIP

RIP

C1

  • Đánh thủng cục bộ
  • Điện dung tản
  • Nhiệt độ :0,025%/K
  • Đánh thủng cục bộ
  • Điện dung tản
  • Nhiệt độ : 0,04%/K

C2

  • Điện dung tản
  • Điện dung tản

Hệ số công suất (PF) % C1

  • Lão hóa
  • Nhiệt độ
  • Độ ẩm
  • Nhiệt độ

Hệ số công suất (PF) % C2

  • Lão hóa
  • Độ ẩm

Bảng 3: Ảnh hưởng của các tham số đo lường đối với sứ xuyên loại  OIP & RIP.

TỔNG QUAN VỀ HƯỚNG DẪN BẢO TRÌ

Phân tích biểu đồ trong H.6 dứơi đây dựa trên một bộ số liệu  tổng cộng 4.517 phép đo hê số công suất (PF) .  PF(C1) từ 3 tổ chức thành viên cho thấy PF(C1)  trung bình tổng thể khoảng 0,31% với OIP và 0,33% với RIP. Nhưng cần chú ý rằng các phép đo từ PLN có độ lệch đáng kể so với trung bình chung. Vài số liệu mà PF>10% không được đưa vào phân tích này do số liệu đó xem là không thực tế.

H. 7: Phân tích Biểu đồ dữ liệu đo lường cho sứ xuyên  tại TNB, EGAT & PLN.

Những giá trị tại những nhóm khác nhau dựa trên phân tích biểu đồ trên đây (thể hiện trong Bảng 4 và H.8) chỉ ra rằng tốc độ xuống cấp tăng đến ≤5%  tại xấp xỉ 92%  số lượng sứ . Điều này phù hợp với các giới hạn của IEEE và tốc độ tăng đáng kể xấp xỉ ≤ 0.7%  ở  98%  số lượng sứ là phù hợp với giới hạn của IEC.

Bảng 4: PF (C1) tại các nhóm xác suất khác nhau đối với sứ xuyên loại OIP &  RIP.

Với kết luận này , các tổ chức thành viên nhất trí rằng giá trị PF ứng với cỡ  90%  số lượng sứ xuyên sẽ được lấy như là “giới hạn tốt” cho sứ đang vận hành cũng như sứ mới . “các giới hạn lưu ý” ứng với giá trị PF nằm trong khoảng 95% đến 98%  số sứ . Nằm ngoài giới hạn ở mức 98% , một sứ xuyên được xem như ở tình trạng kém và cần chú ý khẩn cấp để tránh sự cố. Các thành viên cũng đã cân nhắc và quyết định rằng một giá trị PF tuyệt đối của sứ xuyên thế nào thì phụ thuộc vào thiết kế và vật liệu. Như vậy, việc đánh giá sứ xuyên dựa trên các giá trị tuyệt đối có lẽ không phải là chỉ định tốt trong mọi trường hợp. Họ cũng nhất trí rằng một thay đổi nào đó khác với giá trị lúc nghiệm thu vận hành hoặc đường cơ sở, đều cần quan tâm xem xét và có ngay biện pháp khẩn thiết. Thông tin này sau đó được sử dụng như là cơ sở để rà soát lại tiêu chuẩn bảo trì hiện hành đang áp dụng tại các thành viên và xây dựng thành tiêu chuẩn cho các trạng thái : mới, đang bảo hành và đang vận hành của sứ xuyên.

H. 8: PF(C1) tại các nhóm tỉ lệ số lượng  khác nhau  đối với sứ xuyên OIP & RIP của JMMC.

Stt

Tham số

Giới hạn

Ghi chú

1

Trị tuyệt đối PF(C1) qui về 200C

  1. ≤ 0.5% 
  2. Như nhau giữa các pha hoặc giữa các sứ cùng loại

Nếu vượt giới hạn:

Hãy kiểm tra với các kết quả FAT và điều tra sâu hơn (xem sơ đồ xử lý trục trặc)

Có thể lấy nhiệt độ tham chiếu từ trị trung bình của nhiệt độ dầu trên cùng và nhiệt độ môi trường, đối với sứ OIP ngoài trời.

Đối với RIP, không cần dùng hệ số hiệu chỉnh .

2

Độ thay đổi của điện dung C1

Trong phạm vi ± 5% giá trị trên nameplate

3

Giá trị điện dung C2

Không có giới hạn

Lưu số liệu để tham chiếu về sau

4

PF(C2) (không qui đổi nhiệt độ)

Không có giới hạn

Lưu số liệu để tham chiếu về sau

Bảng  5: Hướng dẫn diễn giải kết quả thí nghiệm (nghiệm thu mới).

Stt

Tham số

Giới hạn

Ghi chú

1

Trị tuyệt đối PF(C1) qui về 200C

  1. ≤ 0.5% 
  2. Như nhau giữa các pha hoặc giữa các sứ cùng loại

Nếu vượt giới hạn:

Hãy kiểm tra với FAT và điều tra sâu hơn cùng với Nhà sản xuất (xem sơ đồ xử lý trục trặc)

Có thể lấy nhiệt độ tham chiếu từ trị trung bình của nhiệt độ dầu trên cùng và nhiệt độ môi trường, đối với sứ OIP ngoài trời.

Đối với RIP, không cần dùng hệ số hiệu chỉnh .

2

Độ thay đổi của điện dung C1

Trong phạm vi ± 5% giá trị trên nameplate/ giá trị đóng điện lần đầu/ dữ liệu cơ sở

3

Giá trị điện dung C2

Không tăng hay giảm đáng kể so với khi đóng điện lần đầu và đều giữa các pha

4

PF(C2) (không qui đổi nhiệt độ)

Không tăng hay giảm đáng kể giá trị so giữa các pha

 

5

Quét hồng ngoại sứ xuyên

 

 

a

Kẹp dây, đầu cosse

ΔT với môi trường (*) ở tải Max

< 40 0K

Tình trạng của đấu nối hoặc Tap thử nghiệm :

+ Xử lý ngay nếu kém;

+ Giám sát thường xuyên hơn và xử lý nếu diễn biến xấu ;

(*) tính =(Imax/I tải)2 x ΔT đo được (thông lệ  tại PLN)

(**) EGAT thực hành việc quét hồng ngoại tại nắp che Tap thử nghiệm và đầu sứ, xem là biện pháp hữu hiệu phát hiện nhiệt cục bộ

 

ΔT giữa các pha

< 10 0K

b

Tap thử nghiệm, chân sứ và chụp đầu sứ (**)/ môi trường

< 10 0K

c

Thân / bề mặt sứ (so giữa các pha)

< 5 0K

Bảng  6: Trong thời gian bảo hành (1 – 5 năm).

Stt

Tham số

TỐT

CHÚ Ý

KÉM

Ghi chú

1

Trị tuyệt đối PF(C1) qui về 200C

<0,5%

0,5-0,7%

>0,7%

Nếu kết quả vượt giới hạn, cần điều tra sâu thêm với Nhà sản xuất hoặc tham chiếu Hướng dẫn xử lý trục trặc .

Có thể lấy nhiệt độ tham chiếu từ trị trung bình của nhiệt độ dầu trên cùng và nhiệt độ môi trường, đối với sứ OIP ngoài trời.

Đối với RIP, không cần dùng hệ số hiệu chỉnh .

2

Đô biến thiên PF(C1) so với giá trị cơ sở hay nghiệm thu lần đầu

 

Gấp đôi

Gấp 3

3

Thay đổi điện dung  C1

<±5%

+5-10%

>± 10%

4

Giá trị điện dung C2

Không tăng hay gỉam đáng kể so với giá trị lúc nghiệm thu và đều giữa các pha

5

PF(C2) (không qui đổi nhiệt độ)

Không tăng hay gỉam đáng kể giá trị giữa các pha

6

Quét hồng ngoại sứ xuyên

 

 

 

 

a

Kẹp dây, đầu cosse

ΔT với môi trường (*) ở tải Max

< 40 0K

40-700K

>70 0K

Tình trạng của đấu nối hoặc Tap thử nghiệm :

+ Kém: Xử lý ngay;

+ Chú ý: Giám sát thường xuyên hơn và xử lý nếu diễn biến xấu ;

(*) tính =(Imax/I tải)2 x ΔT đo được (thông lệ  tại PLN)

(**) EGAT thực hành việc quét hồng ngoại tại nắp che Tap thử nghiệm và đầu sứ, xem là biện pháp hữu hiệu phát hiện nhiệt cục bộ.

ΔT giữa các pha

< 10 0K

10-20 0K

>20 0K

b

Tap thử nghiệm, chân sứ và chụp đầu sứ (**)/ môi trường

< 10 0K

10-35 0K

>35 0K

c

Thân / bề mặt sứ (so giữa các pha)

< 5 0K

5-15 0K

>15 0K

7

Mẫu dầu

IEC 61464 /IEC 60296 / khuyến nghị của Nhà sản xuất

Chỉ thực hiện nhằm điều tra, nếu thấy PF cao hoặc biến thiên của C1 vượt quá giới hạn “Kém” (nếu cần thiết)

Bảng 7: Trong vận hành bình thường.

 


  • Hà Công minh - TP. Điều Độ - nguồn: tạp chí INMR-Canada- tháng 1-2019